All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution

Public support

  • Provider

    Czech Science Foundation

  • Programme

    Standard projects

  • Call for proposals

    Standardní projekty 11 (SGA02008GA-ST)

  • Main participants

  • Contest type

    VS - Public tender

  • Contract ID

    102/08/1474

Alternative language

  • Project name in Czech

    Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením

  • Annotation in Czech

    Projekt je zaměřen na lokální charakterizaci optických a elektronických vlastností optoelektronických struktur, včetně elektroluminiscenčních struktur.  Vzhledem k faktu, že o  nanoskopických vlastnostech těchto struktur není příliš informací, bude použita relativně nová metoda rastrovací mikroskopie v optickém blízkém poli (SNOM) rozvíjená na pracovišti. Hlavním cílem projektu je pochopení a zlepšení kvality a živostnosti těchto struktur. Ty se zhoršují absorpcí, vnitřním odrazem a dalšími mechanismy ztrát. Tvar elektromagnetického pole v blízkém okolí součástek  a hlavní mechanismy lokální elektroluminiscence budou studovány zejména s ohledem na proces stárnutí, způsobený zesílenou difúzí iontů příměsí a vakancí nosiče. Ke zjištění kvality a životnosti součástek budou zkoumány základní lokální optické a elektrické charakteristiky a to jednak pomocí metody šumové spektroskopie, lokální foto- a elektroluminisce a optického blízkého pole, jednak pomocí korelace jasu (výsledků

Scientific branches

  • R&D category

    ZV - Basic research

  • CEP classification - main branch

    JA - Electronics and optoelectronics

  • CEP - secondary branch

    BH - Optics, masers and lasers

  • CEP - another secondary branch

    JB - Sensors, detecting elements, measurement and regulation

  • OECD FORD - equivalent branches <br>(according to the <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">converter</a>)

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)<br>20201 - Electrical and electronic engineering

Completed project evaluation

  • Provider evaluation

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Project results evaluation

    The project was focused on the exploitation of Scanning near-field optical microscopy method for local nanometer optical and electronic characterization of photonic components, including &nbsp;inorganic and organic structures. Because the knowledge aboutthe nanoscopic properties of these structures is not yet well known, the main objective was to understand and improve the overall efficiency of

Solution timeline

  • Realization period - beginning

    Jan 1, 2008

  • Realization period - end

    Dec 31, 2010

  • Project status

    U - Finished project

  • Latest support payment

    Apr 16, 2010

Data delivery to CEP

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Data delivery code

    CEP11-GA0-GA-U/03:3

  • Data delivery date

    Feb 9, 2015

Finance

  • Total approved costs

    1,331 thou. CZK

  • Public financial support

    1,331 thou. CZK

  • Other public sources

    0 thou. CZK

  • Non public and foreign sources

    0 thou. CZK