Influence of ferroelectric thin film microstructure on the soft mode behaviour
Project goals
We propose a complex study of high-frequency dielectric and structural properties of ferroelectric thin films. The spectroscopic techniques involve infrared spectroscopy, Raman scattering and time domain terahertz spectroscopy. The measurements will be carried out in broad spectral and temperature range. Various types of X-ray diffraction will be used to obtain important data about the morphology and microscopic structure of the thin films. Our main goal is to find correlation between the dielectric properties and microstucture of the films. This knowledge is precisely that needed to understand issues as: why is the dielectrictric constant of thin films lower than that for the bulk? It plays a key role in potential application of ferroelectric thin films in computer memories. The comparison of the spectral properties of the thin films and bulk materials provides also deeper insight in the mechanism of the phase transitions, which takes place in these materials and its size dependence. The samples
Keywords
Public support
Provider
Czech Science Foundation
Programme
Standard projects
Call for proposals
Standardní projekty 1 (SGA02002GA-ST)
Main participants
Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Contest type
VS - Public tender
Contract ID
—
Alternative language
Project name in Czech
Vliv mikrostruktury feroelektrických tenkých vrstev na chování měkkého módu
Annotation in Czech
Navrhujeme komplexní studium vysokofrekvenčních dielektrických a strukturních vlastností ferroelektrických tenkých vrstev. Spektroskopické techniky zahrnují infračervenou spektroskopii, Ramanův rozptyl a terahertzovou spektroskopii. Měření se budou provádět v širokém spektrálním a teplotním oboru. Pro získání důležitých dat o morfologii a mikrostruktuře tenkých vrstev budou použity různé typy rentgenovy difrakce. Za svůj hlavní úkol považujeme nalezení korelace mezi dielektrickými vlastnostmi a mikrostrukturou tenkých vrstev. Právě tato znalost je nutná pro pochopení otázek jako "proč je dielektrická konstanta tenkých vrstev nižší než objemových krystalů". Tento problém hraje klíčovou roli při využití feroelektrických tenkých vrstev v pamětech počítačů. Porovnání spektrálních vlastností tenkých vrstev a objemových materiálů umožňuje nahlédnout do mechanismu fázového přechodu, ke kterému v těchto látkách dochází a k jeho závislosti na dimenzi. Vzorky pro výzkum si budeme částečně připravovat
Scientific branches
Completed project evaluation
Provider evaluation
V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)
Project results evaluation
The project was focused on a complex study of high-frequency dielectric and structural properties of ferroelectric thin films. The following spectroscopic techniques were used for this purpose: infrared spectroscopy, Raman scattering, time domain teraher
Solution timeline
Realization period - beginning
Jan 1, 2002
Realization period - end
Jan 1, 2004
Project status
U - Finished project
Latest support payment
—
Data delivery to CEP
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP/2005/GA0/GA05GA/U/N/B:7
Data delivery date
Jun 2, 2008
Finance
Total approved costs
14,010 thou. CZK
Public financial support
2,405 thou. CZK
Other public sources
11,605 thou. CZK
Non public and foreign sources
0 thou. CZK
Basic information
Recognised costs
14 010 CZK thou.
Public support
2 405 CZK thou.
17%
Provider
Czech Science Foundation
CEP
BM - Solid-state physics and magnetism
Solution period
01. 01. 2002 - 01. 01. 2004