Two-dimensional mapping of element concentratios by PIXE analysis
Project goals
The objective of the project is to upgrade the existing facility to a two-dimensional mapping PIXE submiliprobe. Analysis of trace elements by PIXE is salready conducted in the aplicant's laboratory. Various samples are analyzed: fine aerosol particles on a filter, thick or thin layers of materials, paste-like or liquid samples. Generally, the minimum amount of analyzed material required by PIXE is very small, even a few micrograms. However, the analyzed surface of the sample is presently several mm indiameter. The objective is a major improvement - upgrade to a submilimeter probe. That requires: i) a precise target positioning and beam spot localization with accuracy better than a tenth of a milimeter, ii) improvement of monitoring of the beam stability and transport along the vacuum line, iii) proton charge measurement systém in the given experimental geometry. There is a variety of suitable applications fot the proposed submilimeter probe including: monitoring of structural changes of tissues in m
Keywords
Public support
Provider
Czech Science Foundation
Programme
Standard projects
Call for proposals
—
Main participants
České vysoké učení technické v Praze / Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská
Contest type
—
Contract ID
—
Alternative language
Project name in Czech
Dvoudimenzionální mapování prvkových koncentrací metodou PIXE
Annotation in Czech
Záměrem navrhovaného projektu je obohatit stávající zařízení o možnost mapování povrchových koncentrací prvků u pevných látek. Na pracovišti navrhovatele jsou na vybudovaném zažízení prováděny analýzy stopových prvků metodou PIXE. Zkoumané vzorky mohou být různého druhu: prachové částice na filtru, tenké i tlusté vrstvy materiálů, pasty nebo rpášky různého původu, kapaliny. Potřebné množství látky je velmi malé, stačí i několik mg, ale analyzovaný povrch na zařízení dnešní podobě má průměr několik mm. Cílem projektu je další výrazné vylepšení - úprava v submilimetrovou sondu. Je nutno zjistit polohování terče a kontrolu polohy stopy svazku s přesností lepší než desetina mm, zlepšit měření stability a kontrolu svazku podél iontové trasy a vyřešit problematiku měření expoziční dávky v tomto uspořádání. Možných aplikací je celá řada - v medicíně pro zjišťování změn v tkáních, v geologii pro analýzy minerálů, při zkoumání archeologických nálezů a uměleckých děl. V rámci projektu budou připraveny a analyzo
Scientific branches
R&D category
—
CEP classification - main branch
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
CEP - secondary branch
JG - Metallurgy, metal materials
CEP - another secondary branch
DB - Geology and mineralogy
10304 - Nuclear physics
10504 - Mineralogy
10505 - Geology
10506 - Paleontology
20501 - Materials engineering
Completed project evaluation
Provider evaluation
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Project results evaluation
Bylo vybudováno funkční zařízení dovolující provádět dvoudimenzionální analýzu prvkových koncentrací na povrchu vzorku se submilimetrovým rozlišením s využitím metody PIXE. Byl úspěšně zahájen vývoj metodiky analýz i vlastní analýzy. Předpokládané srovná
Solution timeline
Realization period - beginning
Jan 1, 1998
Realization period - end
Jan 1, 1999
Project status
U - Finished project
Latest support payment
—
Data delivery to CEP
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP/2000/GA0/GA00GA/U/6:2
Data delivery date
—
Finance
Total approved costs
1,115 thou. CZK
Public financial support
829 thou. CZK
Other public sources
0 thou. CZK
Non public and foreign sources
0 thou. CZK
Recognised costs
1 115 CZK thou.
Public support
829 CZK thou.
0%
Provider
Czech Science Foundation
CEP
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
Solution period
01. 01. 1998 - 01. 01. 1999