All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Fabrication of thin films of UV-Vis-NIR transparent dielectrics by repetitive, capillary-discharge XUV laser ablation

Public support

  • Provider

    Czech Science Foundation

  • Programme

    Standard projects

  • Call for proposals

    Standardní projekty 14 (SGA02011GA-ST)

  • Main participants

    Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.<br>Univerzita Karlova / Matematicko-fyzikální fakulta<br>Ústav fyzikální chemie J. Heyrovského AV ČR, v. v. i.<br>Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava / Fakulta bezpečnostního inženýrství

  • Contest type

    VS - Public tender

  • Contract ID

    P108-11-1312

Alternative language

  • Project name in Czech

    Vytváření speciálních tenkých vrstev UV-Vis-NIR transparentních dielektric pomocí ablace repetičním kapilárním XUV laserem

  • Annotation in Czech

    Pulsní laserová depozice (PLD) je velmi dobře zavedená metoda pro přípravu tenkých vrstev která však dosud nebyla realizována s laserem pracujícím v extrémně ultrafialovém (XUV) spektrálním oboru realizována. Interakce XUV záření s hmotou vykazuje řadu rysů, které ji výrazně odlišují od působení záření v ultrafialové, viditelné a infračervené oblasti. Fotony XUV záření produkované repetičním kapilárním laserem o energii 26,4 eV jsou v materiálu pohlcovány téměř výhradně fotoefektem a šířka zakázaného pásu materiálu nemá na absorpci XUV záření v pevné látce zásadní vliv. Jedná se o zcela unikátní využití XUV laseru pro PLD přípravu tenkých vrstev materiálů se zanedbatelnou lineární absorpci ve UV-Vis-NIR spektrálních oblastech, jakými jsou např. iontové krystaly LiF, CaF2, MgF2. Součástí projektu je komplexní studium XUV laserového plazmatu metodami optické a hmotnostní spektroskopie a matematické modelování plazmatu. Připravené vrstvy budou podrobeny komplexní analýze struktury, optických vlastností a fluorescence.

Scientific branches

  • R&D category

    ZV - Basic research

  • CEP classification - main branch

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • CEP - secondary branch

    BH - Optics, masers and lasers

  • CEP - another secondary branch

    BL - Plasma physics and discharge through gases

  • OECD FORD - equivalent branches <br>(according to the <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">converter</a>)

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)<br>10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Completed project evaluation

  • Provider evaluation

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Project results evaluation

    XUV/X-ray laser beams were used for erosion of various materials by both ablation and desorption processes. Thin layers of eroded materials were deposited on a substrate. Modelling of ablation processes was performed using XUV – ABLATOR. A number of outputs deal with main project topics only marginally. Outputs are indicative of the low effectiveness of cooperation among the project workplaces.

Solution timeline

  • Realization period - beginning

    Jan 1, 2011

  • Realization period - end

    Nov 24, 2016

  • Project status

    U - Finished project

  • Latest support payment

    Apr 1, 2016

Data delivery to CEP

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Data delivery code

    CEP17-GA0-GA-U/03:1

  • Data delivery date

    Jun 28, 2017

Finance

  • Total approved costs

    17,367 thou. CZK

  • Public financial support

    17,367 thou. CZK

  • Other public sources

    0 thou. CZK

  • Non public and foreign sources

    0 thou. CZK