Measurement of surface profiles by noncontact atomic force microscopy
Project goals
The measurement of surface morphology and structure by atomic force microscopy (AFM) is based on detection of interatomic forces between a sharp tip attached to an elastic cantilever and local areas of the studied surface. While in the contact mode the tip is in permanent contact with the surface during scanning and surface profile is recorded via cantilever deflections, in the noncontact mode vibrating cantilever is kept in certain distances from the surface (1310 nm) and information about the surfaceprofile is obtained from the changes of characteristics of cantilever vibrations (e. g. amplitude and effective resonance frequency). The advantage of the noncontact mode consists in capability to measure soft samples such as biological samples, liquid 3air interfaces, lubricants on surfaces and others without significant damages or changes of the observed surface. Planned experimental measurements will be performed by a home-built UHV AFM device for in-situ study of surfaces of ultrathin films prepared
Keywords
Public support
Provider
Czech Science Foundation
Programme
Post-graduate (doctorate) grants
Call for proposals
Standardní projekty 7 (SGA02004GA1PD)
Main participants
—
Contest type
VS - Public tender
Contract ID
—
Alternative language
Project name in Czech
Měření profilu provrchů pomocí bezkontaktní mikroskopie atomárních sil
Annotation in Czech
Měření morfologie a struktury povrchů mikroskopem atomárních sil (AFM - atomic force microscopy) je založeno na detekci meziatomárních sil mezi ostrým hrotem umístěným na konci pružného raménka a lokálními strukturami studovaného povrchu. Zatímco v kontaktním módu se hrot během rastrování neustále dotýká povrchu a profil povrchu je zaznamenáván ohyby raménka, v bezkontaktním módu je kmitající raménko udržováno v jistých vzdálenostech od povrchu (1-10 nm) a informace o profilu povrchu je získávána ze změn charakteristik kmitání raménka (např. amplitudy a efektivní vlastní frekvence). Výhoda bezkontaktního módu spočívá ve schopnosti měřit měkké vzorky, jako jsou biologické preparáty, rozhraní mezi kapalinou a plynem, maziva na površích a jiné, bez významného poškozování nebo změny sledovaného povrchu. Plánované experimenty budou prováděny na nekomerčním zařízení UHV AFM za účelem in situ studia povrchů ultratenkých vrstev připravených v UHV zařízení metodou atomárně svazkového napařování za
Scientific branches
R&D category
ZV - Basic research
CEP classification - main branch
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
CEP - secondary branch
BM - Solid-state physics and magnetism
CEP - another secondary branch
—
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
10304 - Nuclear physics
Completed project evaluation
Provider evaluation
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Project results evaluation
Within the frame of the project these topics specified in the application form were fulfilled: 1) The device was checked in both atmosphere- and UHV conditions. On the basis of the results of these measurements a new generator of pulses for actuation of
Solution timeline
Realization period - beginning
Jan 1, 2004
Realization period - end
Jan 1, 2006
Project status
U - Finished project
Latest support payment
—
Data delivery to CEP
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP07-GA0-GP-U/03:2
Data delivery date
Oct 16, 2007
Finance
Total approved costs
717 thou. CZK
Public financial support
717 thou. CZK
Other public sources
0 thou. CZK
Non public and foreign sources
0 thou. CZK
Basic information
Recognised costs
717 CZK thou.
Public support
717 CZK thou.
100%
Provider
Czech Science Foundation
CEP
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
Solution period
01. 01. 2004 - 01. 01. 2006