Wavelength scanning interferometry with tuneable semiconductor laser
Project goals
The main aim is to design and build up a Michelson interferometer in case of absolute measurement of distance where is not possible to use a conventional single-frequency interferometer with moving corner cube prism. The wavelength scaning interferometrytechnique will be applied by means of a tuneable semiconductor laser. The measuring process will be scoped to the monitoring of an actual interference phase between measuring and reference beam during wavelength scanning. Tuneable extendedcavity laser diode (ECL laser) working at 633nm with good stability and reproducibility of the wavelength will be used as laser source. The calibration of tuning range of ECL will be provided by detection of fine absorption lines in molecular iodine. Thequadrature signal detection technique and the digital signal processing will be calculated the actual value of interference phase. The precision of the proposed interferometer will be compared with a He-Ne laser interferometer at 633nm.
Keywords
laser interferometerextended cavity laserfrequency modulated continuous wave interferometry
Public support
Provider
Academy of Sciences of the Czech Republic
Programme
Grants of distinctly investigative character focused on the sphere of research pursued at present particularly in the Academy of Sciences of the Czech Republic
Call for proposals
SAV0-AB2000
Main participants
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Contest type
VS - Public tender
Contract ID
—
Alternative language
Project name in Czech
Laserová interferometrie s přeladitelným polovodičovým laserem
Annotation in Czech
Hlavním cílem projektu je návrh a realizace Michelsonova interferometru pro absolutní měření vzdáleností, kde nelze použít běžný laserový interferometr s pohyblivým koutovým odražečem. Bude zde použito techniky spojitého přelaďování vlnové délky, kterouzajistí polovodičový laditelný laser. Měřící proces bude zaměřen na sledování průběhu okamžité fáze mezi měřícím a referenčním svazkem interferometru během procesu přelaďování laseru. Jako laserový zdroj bude použit přeladitelný diodový laser s externímrezonátorem (ECL laser) s dobrou stabilitou a reprodukovatelností nastavení vlnové délky pracující na 633nm. Kalibrace rozsahu přeladění vlnových délek laseru bude zajištěna detekcí jemných absorpčních čar v molekulárním jódu. Pro výpočet hodnoty fáze interferujících svazků bude využito techniky detekce signálů v kvadratuře a digitálního zpracování signálů. Přesnost navrhovaného interferometru bude srovnána s interferometrem na bázi He-Ne laseru v oblasti vlnové délky 633nm.
Scientific branches
Completed project evaluation
Provider evaluation
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Project results evaluation
Vyvinuli jsme interferometr s přeladitelným polovodičovým laserem typu VCSEL na vlnové délce 760nm, který umožmuje určit naměnný (absolutní) rozdíl vzdáleností mezi větvemi interferometru s rozlišením 3000nm, bez nutnosti pohybu měřícího zrcadla.
Solution timeline
Realization period - beginning
Jan 1, 2000
Realization period - end
Jan 1, 2002
Project status
U - Finished project
Latest support payment
—
Data delivery to CEP
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP/2003/AV0/AV03IA/U/N/5:3
Data delivery date
Oct 27, 2004
Finance
Total approved costs
2,261 thou. CZK
Public financial support
1,699 thou. CZK
Other public sources
562 thou. CZK
Non public and foreign sources
0 thou. CZK
Basic information
Recognised costs
2 261 CZK thou.
Public support
1 699 CZK thou.
75%
Provider
Academy of Sciences of the Czech Republic
CEP
BH - Optics, masers and lasers
Solution period
01. 01. 2000 - 01. 01. 2002