Efficient computational methods for materials characterization at the nanoscale

Project name in Czech
Efektivní výpočetní metody pro charakterizaci materiálů v nanoměřítku
Annotation in Czech
Cílem projektu je vytvořit metody zpracování dat z IIT a AFM, které budou po matematické stránce optimalizované a umožní jak robustnější zpracování dat, tak odhad nejistoty související s procesem zpracování a stanovení spolehlivosti výsledku. Výpočetní metody budou v první fázi vyvinuty pro IIT, které disponuje nižším šumem ve kterém je lépe oddělena detekce síly a vzdálenosti. Pro účely následné rychlé implementace v řídicích jednotkách AFM mikroskopů nebo ve vyhodnocovacím softwaru budou nicméně algoritmy již od počátku navrženy tak, aby dokázaly zpracovávat objemná data v krátkém čase, nebo aby mohly být pro takové zpracování optimalizovány. Výsledkem řešení projektu tak bude sada algoritmů, metodických postupů a softwarových nástrojů, které umožní provádět lokální mechanická měření na površích pevných látek nejen rychle, ale i se známou nejistotou měření. Velká část těchto nástrojů přitom bude k dispozici jako volně šiřitelný software, tedy přímo aplikovatelná i na dalších pracovištích zabývajících se materiálovým výzkumem.

R&D category
ZV - Basic research
OECD FORD - main branch
20201 - Electrical and electronic engineering
OECD FORD - secondary branch
10103 - Statistics and probability
OECD FORD - another secondary branch
—
CEP - equivalent branches <br>(according to the <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">converter</a>)
BB - Applied statistics, operational research<br>JA - Electronics and optoelectronics<br>JB - Sensors, detecting elements, measurement and regulation

Provider evaluation
V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)
Project results evaluation
Within this project, tools were developed to enable mathematically rigorous evaluation of data in the study of the mechanical properties of solid materials using nanoindentation and atomic force microscopy. These tools improve the accuracy of mechanical property measurements and enable fast measurements with high spatial resolution, with applications ranging from materials science to biology.

Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data delivery code
CEP26-MSM-LU-U
Data delivery date
Jun 30, 2026

Similar projects(10)