Filters
Project
Verification of the principle of zero - charging high resolution scanning electron microscopy and its applications. (GA202/96/0961)
The aim of the project is to verify the newly proposed principle of zero charging scanning electron microscosspy by adapting the existing scanning low energy electron microscope (SLEEM) to the proposed method of measurement and adjustment of...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 1996 - 1998 •
- 1 238 tis. Kč •
- 808 tis. Kč •
- GA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 1996 - 1. 1. 1998
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (65%)
Poskytovatel: Grantová agentura České republiky
Project
Examination of contrast in doped semiconductors with scanning low energy microscope with ultimate parameters (GP102/09/P543)
will be conducted using a SLEEM, with an angular sensitive BSEand SE detector, and an additional...
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2009 - 2010 •
- 567 tis. Kč •
- 567 tis. Kč •
- GA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2009 - 31. 12. 2010
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Grantová agentura České republiky
- 1 - 2 out of 2