Filters
*New contrast mechanisms in scanning electron microscope (FR-TI3/323)
*Extension of the scope of imaging modes of the scanning electron microscopes produced by the applicant of this project, namely with microscopy of slow electrons of thecrystallinic as well as electronic st...
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2011 - 2012 •
- 2 570 tis. Kč •
- 816 tis. Kč •
- MPO
Řešení projektu: 1. 9. 2011 - 30. 6. 2012
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (32%)
Poskytovatel: Ministerstvo průmyslu a obchodu
Scanning transmission electron microscopy with very slow electrons (IAA100650902)
possibilities of the scanning transmission electron microscopy with very low energy, whereScanning transmission electron microscope, usually operating at primary beam paths of elastic (EMFP) and inelastic...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2009 - 2011 •
- 2 467 tis. Kč •
- 2 467 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2009 - 31. 12. 2011
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Contrast and detection in scanning electron microscopy (OE08012)
The project aims to increase our knowledge of the complex physical interaction mechanisms between electrons in various semiconductor materials. This should lead to: - an understanding of contrast mechanisms in Scanning Electron<...
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2008 - 2010 •
- 18 270 tis. Kč •
- 7 322 tis. Kč •
- MŠMT
Řešení projektu: 1. 1. 2008 - 31. 12. 2010
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (40%)
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Further development of microscopy and diffraction by using very loš electrons in the scanning electron microscope (IAA2065502)
BH - Optika, masery a lasery
- 1995 - 1997 •
- 968 tis. Kč •
- 968 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 1995 - 1. 1. 1997
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy (GA102/94/1099)
JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví
- 1994 - 1995 •
- 270 tis. Kč •
- 1 190 tis. Kč •
- GA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 1994 - 1. 1. 1995
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (441%)
Poskytovatel: Grantová agentura České republiky
Electron transfer in new materials for molecular electronics (MEB041006)
-organization of the electron conducting organic molecules containing heterocyclic rings perspectivecandidates in the design of new molecular electronic devices in the role of the molecular wires. We have already scrutinized their <...
CG - Elektrochemie
- 2010 - 2011 •
- 92 tis. Kč •
- 92 tis. Kč •
- MŠMT
Řešení projektu: 1. 1. 2010 - 31. 12. 2011
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
BackScattered Electrons Detection in Low Vacuum and Low Energy Scanning Electron Microscopy for the Study of True Microstructure of Live Substances (GA102/94/0677)
JJ - Ostatní materiály
- 1994 - 1996 •
- 686 tis. Kč •
- 1 113 tis. Kč •
- GA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 1994 - 1. 1. 1996
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (162%)
Poskytovatel: Grantová agentura České republiky
Development of atomic source for applications in electron microscopy (TJ01000271)
Development of an source for generation of atomic hydrogen in a scanning electron microscope. Research and development of methodology for characterization of surface changes of semiconductor and metal samples after exposure to atomi...
Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
- 2018 - 2019 •
- 2 288 tis. Kč •
- 1 934 tis. Kč •
- TA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2018 - 31. 12. 2019
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (85%)
Poskytovatel: Technologická agentura ČR
Microstructural investigation of advanced creep resisting materials for steam power plants (OC 522.60)
bude dodáno ve verzi 2 Light microscopy, transmission and scanning electron microscopy and microanalysis and image analysis are used for quantitative microstructural characterisation.......
JG - Hutnictví, kovové materiály
- 1998 - 2003 •
- 5 130 tis. Kč •
- 2 290 tis. Kč •
- MŠMT
Řešení projektu: 1. 1. 1998 - 1. 1. 2003
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (45%)
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Examination of nanostructures by electron beam (KJB2065405)
with a complementary technique, particularly with the scanning Auger electron microscopy revealingNewly developed principale of the scanning electron microscope (SEM) with the cathode lens enables one to ...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2004 - 2005 •
- 902 tis. Kč •
- 902 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2004 - 1. 1. 2005
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
- 1 - 10 out of 3 610