Structure analysis of hologram layers by ion beam CM VaVaI č. 49
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00007064%3AK01__%2F16%3AN0000019" target="_blank" >RIV/00007064:K01__/16:N0000019 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Analýza struktury vrstev hologramů pomocí iontového svazku CM VaVaI č. 49
Original language description
studium holografických ochranných prvků - hologramy, holografické plomby a pečetě se stále více využívají k autorizaci tiskovin, deklarování originality produktů, a též i k pečetění těch částí výrobků, u kterých je nutné spolehlivě rozpoznat neautorizované vniknutí. Obraz samotný vzniká díky lomům a interferencím světla na jednotlivých strukturách holografické vrstvy. Je možné vyrobit hologram, který bude vizuálně dobře napodobovat originál, ale který se bude lišit svým vnitřním složením. Cílem analýzy hologramů ve forenzní praxi je využití detailních strukturních a dalších informací ke komparaci s předkládanými porovnávacími vzorky.
Czech name
Analýza struktury vrstev hologramů pomocí iontového svazku CM VaVaI č. 49
Czech description
studium holografických ochranných prvků - hologramy, holografické plomby a pečetě se stále více využívají k autorizaci tiskovin, deklarování originality produktů, a též i k pečetění těch částí výrobků, u kterých je nutné spolehlivě rozpoznat neautorizované vniknutí. Obraz samotný vzniká díky lomům a interferencím světla na jednotlivých strukturách holografické vrstvy. Je možné vyrobit hologram, který bude vizuálně dobře napodobovat originál, ale který se bude lišit svým vnitřním složením. Cílem analýzy hologramů ve forenzní praxi je využití detailních strukturních a dalších informací ke komparaci s předkládanými porovnávacími vzorky.
Classification
Type
N<sub>metC</sub> - Methodology certified by the authorised body
CEP classification
AG - Legal sciences
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/VG20102015065" target="_blank" >VG20102015065: Introduction of Field Ion Microscopy technique (FIB) into Forensic Casework and Expert Practices of the Police of the Czech Republic for the Analysis in the field of Graphic, Physico - Chemical and Technical Examinations</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2016
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Internal product ID
CM VaVaI č. 49
Regulation ID
4/2016 (PPR-8776-1/čj-2016-990530)
Technical parameters
Metodika pro využití v rámci Znalecké služby PČR, kontakt: marek.kotrly@pcr.cz, Kriminalistický ústav Praha, p.schr. 62/KUP, Strojnická 27, 170 89 Praha 7
Economical parameters
Nasazena do znalecké praxe v rámci znalecké služby PČR
Certification body designation
certifikační autorita Policejního prezidia PČR, Strojnická 27, 170 89 Praha 7
Date of certification
—
Method of use
B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy