All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Characterization of digitizers for measurement of complex voltage ratios

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F15%3A%230001153" target="_blank" >RIV/00177016:_____/15:#0001153 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="http://elektrorevue.cz/cz/clanky/kybernetika--automatizace--merici-technika/0/charakterizace-vzorkovacich-karet-pro-mereni-komplexniho-pomeru-stridavych-napeti-1-1-1-1/" target="_blank" >http://elektrorevue.cz/cz/clanky/kybernetika--automatizace--merici-technika/0/charakterizace-vzorkovacich-karet-pro-mereni-komplexniho-pomeru-stridavych-napeti-1-1-1-1/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Charakterizace vzorkovacích karet pro měření komplexního poměru střídavých napětí

  • Original language description

    Tento článek se zabývá charakterizací 24bitových vzorkovacích karet National Instruments PXI 5922 ve funkci měření komplexního poměru střídavých napětí pro účely digitálních impedančních můstků. V první části jsou popsány běžné topologie digitálních impedančních můstků. Dále je popsána aparatura pro měření linearity vzorkovací karty pomocí precizního indukčního děliče. V článku je také rozebráno měření frekvenční závislosti vstupní impedance karty.

  • Czech name

    Charakterizace vzorkovacích karet pro měření komplexního poměru střídavých napětí

  • Czech description

    Tento článek se zabývá charakterizací 24bitových vzorkovacích karet National Instruments PXI 5922 ve funkci měření komplexního poměru střídavých napětí pro účely digitálních impedančních můstků. V první části jsou popsány běžné topologie digitálních impedančních můstků. Dále je popsána aparatura pro měření linearity vzorkovací karty pomocí precizního indukčního děliče. V článku je také rozebráno měření frekvenční závislosti vstupní impedance karty.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    JB - Sensors, detecting elements, measurement and regulation

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Others

  • Publication year

    2015

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Elektrorevue

  • ISSN

    1213-1539

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    2015

  • Issue of the periodical within the volume

    17

  • Country of publishing house

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Number of pages

    7

  • Pages from-to

    75-81

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database