SPM workshop 2017 Seminář o metodách blízkého pole
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F17%3AN0000041" target="_blank" >RIV/00177016:_____/17:N0000041 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://nanometrologie.cz/cz/seminar.php" target="_blank" >http://nanometrologie.cz/cz/seminar.php</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
SPM workshop 2017 Seminář o metodách blízkého pole
Original language description
Pravidelný mezinárodní seminář zaměřený na metody rastrovací sondové mikroskopie.
Czech name
—
Czech description
—
Classification
Type
W - Workshop organization
CEP classification
—
OECD FORD branch
21000 - Nano-technology
Result continuities
Project
<a href="/en/project/8B15001" target="_blank" >8B15001: Advanced 3D chemical metrology for innovative technologies</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2017
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Event location
Lednice
Event country
CZ - CZECH REPUBLIC
Event starting date
—
Event ending date
—
Total number of attendees
69
Foreign attendee count
11
Type of event by attendee nationality
EUR - Evropská akce