Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F04%3A00002809" target="_blank" >RIV/00216208:11320/04:00002809 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction
Original language description
Thickness determination of thin polycrystalline films by grazing incidence X-ray diffraction
Czech name
Určení tloušťky tenkých polykrystalických filmů rentgenových difrakcí
Czech description
Určení tloušťky tenkých polykrystalických filmů rentgenových difrakcí
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Materials Science Forum
ISSN
0255-5476
e-ISSN
—
Volume of the periodical
443-4
Issue of the periodical within the volume
Neuveden
Country of publishing house
CH - SWITZERLAND
Number of pages
4
Pages from-to
115-118
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—