X-ray scattering study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F06%3A00003011" target="_blank" >RIV/00216208:11320/06:00003011 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
X-ray scattering study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films
Original language description
X-ray scattering study of crystallization of magnetron sputtered TiO2 thin films
Czech name
Rtg difrakční studium krystalizace vrstev TiO2 připravených magnetronovým naprašováním
Czech description
Rtg difrakční studium krystalizace vrstev TiO2 připravených magnetronovým naprašováním
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA106%2F06%2F0327" target="_blank" >GA106/06/0327: Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography
ISSN
0108-7673
e-ISSN
—
Volume of the periodical
A62
Issue of the periodical within the volume
1
Country of publishing house
DK - DENMARK
Number of pages
1
Pages from-to
84-84
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—