Growth of magnetron sputtered TiO2 thin films studied by X-ray scattering
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F07%3A00004957" target="_blank" >RIV/00216208:11320/07:00004957 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/49777513:23520/07:00000033 RIV/49777513:23520/07:00000207
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Growth of magnetron sputtered TiO2 thin films studied by X-ray scattering
Original language description
Growth of magnetron sputtered TiO2 thin films studied by X-ray scattering
Czech name
Růst magnetronově naprašovaných tenkých vrstev TiO2 studovaný pomocí rozptylu rtg záření
Czech description
Růst magnetronově naprašovaných tenkých vrstev TiO2 studovaný pomocí rozptylu rtg záření
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA106%2F06%2F0327" target="_blank" >GA106/06/0327: Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Zeitschrift für Kristallographie
ISSN
0044-2968
e-ISSN
—
Volume of the periodical
26
Issue of the periodical within the volume
suppl
Country of publishing house
DE - GERMANY
Number of pages
6
Pages from-to
241-246
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—