Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F08%3A00100098" target="_blank" >RIV/00216208:11320/08:00100098 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining
Original language description
Single-line diffraction profile analysis method used for evaluation of microstructural parameters in the plain straining
Czech name
Metoda analýzy profilu jedné difrakční linie pro určení mikrostrukturních parametrů při napínaní vzorku
Czech description
Metoda analýzy profilu jedné difrakční linie pro určení mikrostrukturních parametrů při napínaní vzorku
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Materials Science Forum
ISSN
0255-5476
e-ISSN
—
Volume of the periodical
571-572
Issue of the periodical within the volume
1
Country of publishing house
CH - SWITZERLAND
Number of pages
8
Pages from-to
—
UT code for WoS article
000255787100029
EID of the result in the Scopus database
—