Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F08%3A00100558" target="_blank" >RIV/00216208:11320/08:00100558 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/49777513:23520/08:00500786
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness
Original language description
Complex XRD studies of crystallization of amorphous and nanocrystalline magnetron-deposited TiO2 films with different thickness
Czech name
Komplexní rtg studia krystalizace amorfních a nanokrystalických magnetronově naprašovaných vrstev TiO2 s různou tloušťkou
Czech description
Komplexní rtg studia krystalizace amorfních a nanokrystalických magnetronově naprašovaných vrstev TiO2 s různou tloušťkou
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA106%2F06%2F0327" target="_blank" >GA106/06/0327: Crystallization of amorphous and nanocrystalline thin films</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of ICTF14andRSD2008
ISBN
978-90-334-7347-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
University of Ghent
Place of publication
Ghent
Event location
Ghent
Event date
Jan 1, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—