Shape and composition change of Ge dots due to Si capping
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00019755" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00019755 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Shape and composition change of Ge dots due to Si capping
Original language description
Shape and composition change of Ge dots due to Si capping
Czech name
Změna tvaru a chemického složení Ge kvantových teček
Czech description
Změna tvaru a chemického složení Ge kvantových teček
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA202%2F03%2F0148" target="_blank" >GA202/03/0148: Anomalous x-ray scattering from semiconductor nanostructures</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Volume of the periodical
224
Issue of the periodical within the volume
2
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
4
Pages from-to
139-142
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—