Evidence of refractive index change in glass substrates induced by high-density reactive ion plating deposition of SiO2 films

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00015081" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00015081 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Evidence of refractive index change in glass substrates induced by high-density reactive ion plating deposition of SiO2 films

Original language description

High-density reactive ion plating was used for SiO2 coating of Schott B270 glass. Optical properties of the sample were intensively studied by spectroscopic ellipsometry, reflectance and transmittance. Several optical models accounting for different structural defects, i.e., (1) gradient profile of refractive index in SiO2 layer, (2) transition layer between SiO2 and glass, and (3) induced slow variation of glass refractive index close to SiO2/glass interface were considered. The last one with increasedvalue of substrate refractive index gave the best correspondence with the experimental data. (c) 2004 Elsevier B.V. All rights reserved.

Czech name

Důkaz změny indexu lomu ve skleněných podložkách indukovanou deposicí SiO2 vrstev reaktivním plátováním s vysokou hustotou

Czech description

Reaktivní plátování s vysokou hustotou bylo použito pro pokrývání skla Schott B270 vrstvami SiO2. Optické vlastnosti vzorku byly rozsáhle studovány spektroskopickou elipsometrií, odrazivostí a propustností. Několik optických modelů bylo použito pro započtení strukturních defektů, tj. (1) gradientní profil indexu lomu v SiO2 vrstvě, (2) přechodová mezivrstva mezi SiO2 a sklem a (3) slabé změny v indexu lomu skla blízko rozhraní SiO2/sklo byly uvažovány. Poslední z nich obsahující zvýšení indexu lomu podložky vykazoval nejlepší korespondenci s experimentálními daty.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Applied Surface Science

ISSN

0169-4332

e-ISSN

—

Volume of the periodical

244

Issue of the periodical within the volume

1-4

Country of publishing house

US - UNITED STATES

Number of pages

4

Pages from-to

51-54

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—