All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for On-Line Monitoring and Control of Surface Treatment Processes

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F06%3A00016820" target="_blank" >RIV/00216224:14310/06:00016820 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for On-Line Monitoring and Control of Surface Treatment Processes

  • Original language description

    Modern material technology relies increasingly on processes for surface modification and coating. Generally we are lacking a possibility to monitor the progress of such processes. Thus the outcome can only be analyzed after the end of the whole process cycle. We are proposing to use spectroscopic ellipsometry (SE) as an on-line monitoring tool. As an optical method, SE is not affected by high temperatures, process gases, plasmas, etc. SE can be used as a monitoring tool or a sensor for closed loop control of processes. The main difficulty is the on line interpretation of SE data. Depending on the nature of the process monitored or controlled, different models are used for the interpretation. These models predict the SE response depending on different parameters describing the surface under investigation. A fitting process is used to solve the inverse problem, i.e. extracting material data from the SE spectra. We expect increased process stability and shorter development time as a pract

  • Czech name

    Spektroskopická elipsometrie jako nástroj pro on-line monitorování a řízení povrchových procesů

  • Czech description

    Moderní materiálové technologie se stále více opírají o procesy modifikace povrchů a povrchových pokrytí. Obecně chybí možnost monotorování postupu takových procesů.Výsledek pak může být analyzován až po skončení procesního cyklu. Navrhujeme použití spektroskopické elipsometrie (SE) jako on-line nástroje monitorování. Jde o optickou metodu, která není ovlivněna vysokými teplotami, procesními plyny, plasmatem apod. Používáme prokládací proceduru k získání materiálových charakteristik z naměřených SE dat.Očekáváme zvýšenou stabilitu procesu a kratší vývojový čas jako praktický zisk z použití SE.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2006

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Materials Science Forum

  • ISSN

    0255-5476

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    518

  • Issue of the periodical within the volume

    4

  • Country of publishing house

    US - UNITED STATES

  • Number of pages

    8

  • Pages from-to

    423

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database