Introduce Scanning Probe Microscopy into Education
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F16%3APU118811" target="_blank" >RIV/00216305:26210/16:PU118811 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou
Original language description
Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).
Czech name
Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou
Czech description
Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2016
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Chemické listy
ISSN
1213-7103
e-ISSN
—
Volume of the periodical
110
Issue of the periodical within the volume
1
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
7
Pages from-to
153-159
UT code for WoS article
000372100600010
EID of the result in the Scopus database
—