Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM?

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU20651" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU20651 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
Original language description
Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňujebezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního areflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
Czech name
Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
Czech description
—

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostructures: Optical and Electrical Characteristics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2001
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)