Environmental Scanning Electron Microscopy
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30244" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30244 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/68081731:_____/02:12020116
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie
Original language description
Úvod do problematiky environmentální rastrovací elektronové mikroskopie včetně příkladů aplikací této diagnostické metody.
Czech name
Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie
Czech description
—
Classification
Type
C - Chapter in a specialist book
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F01%2F1271" target="_blank" >GA102/01/1271: Study of detection methods and systems in extreme conditions of environmental scanning electron microscopy</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Book/collection name
Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody.
ISBN
80-200-0594-3
Number of pages of the result
26
Pages from-to
459-484
Number of pages of the book
—
Publisher name
Academia
Place of publication
Praha
UT code for WoS chapter
—