Utilization of Noise Characteristic for Quality Check of Solar Cells
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43594" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43594 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Utilization of Noise Characteristic for Quality Check of Solar Cells
Original language description
Testing methods, originally developed for luminescent diodes and other semiconductor devices was applied to an ensambles of solar cells. Quality of the devices is assessed according to forward and reverse V-I characteristic and noise voltage spectral density.
Czech name
Užití šumových charakteristik pro posouzení kvality solárních článků
Czech description
Nové testovací metody pro posouzení kvality laserových diod a solárních článků. Kvalita těchto prvků je posuzována I-V charakteristikami a šumovým napětím spektrálná hustoty.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of the 10th conference student eeict 2004
ISBN
80-214-2636-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
556-559
Publisher name
Fakulta elektrotechniky a komunikacnich technologii
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Apr 29, 2004
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—