Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44980" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU44980 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device
Original language description
The paper brings a subthreshold voltage-induced transferred charge (VIQ) analysis. This method is a useful technique for investigating subtle device physics electrical operation and the aging behavior of ACTFEL devices. Some results will be presented.
Czech name
Analýza stárnutí elektroluminiscenčních součástek řízených střídavým proudem při využití transfer nábojů při podprahových indukovaných napětích
Czech description
Článek přináší analýzu transferu náboje při podprahových hodnotách indukovaného napětí. Tato metoda je vhodná pro zkoumání elektrických operací na malých součástkách a pro sledování procesu stránutí ACTFEL součástek. Článek přináší prvotní výsledky zkoumání.

Project
<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)