SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU45339" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU45339 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY
Original language description
Tento dokument je zaměřen na obecný popis metody STM. Článek popisuje STM mikroskop TS3130 od firmy Tescan. Dále jsou uvedeny možnosti vzniku rušení systému prvek-sonda. Poslední část dokumentu je věnována nanomanipulátoru od firmy PI.
Czech name
SKENUJÍCÍ TUNELUJÍCÍ MIKROSKOPIE
Czech description
This paper is dealing with principle of Scanning Tunnelling Microscopy (STM). Is focused on common description of this Method. Article describes two modes of TS 3130 which is instrument made by Tescan and among others is the article engaged in disturbingeffect on a probe-sample system. Last part of this document is pursuit to nanomanipulator made by PI (physic Instrument).
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Workshop NDT 2004 NON-DESTRUCTIVE TESTING
ISBN
80-7204-371-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
75-79
Publisher name
Brno university of Technology
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Dec 1, 2004
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—