Test-chip for non-linear capacitors characterization

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU51156" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU51156 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Test-chip for non-linear capacitors characterization
Original language description
The paper deals with characterization and linearization of non-linear capacitors of MOS transistors. Basic principles of compensation are presented. A test chip for nonlinear capacitance characterization implementing a new measurement method has been developed.
Czech name
Testovací čip pro charakterizaci nelineárních kondenzátorů
Czech description
Příspěvek pojednává o charakterizaci a linearizaci nelineárních MOS kondenzátorů. Jsou prezentovány základní principy kompenzace. Nová měřící metoda pro charakterizaci je implementována na testovacím čipu.

Project
<a href="/en/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Modern methods of electronic circuit analysis, design and applications</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
EDS '05 IMAPS CS International Conference Proceedings
ISBN
80-214-2990-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
6
Pages from-to
396-401
Publisher name
Ing. Zdeněk Novotný CSc., Ondráčkova 105, Brno
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Sep 15, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)