Criteria quality of STM and SNOM
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU51916" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU51916 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Kriteria kvality STM a SNOM
Original language description
Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.
Czech name
Kriteria kvality STM a SNOM
Czech description
Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Elektrotechnika ainformatika 2005
ISBN
80-7043-375-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
31-34
Publisher name
Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni
Place of publication
Plzeň
Event location
Nečtiny
Event date
Nov 2, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—