Modern TFT sensor measurement method

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52792" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52792 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Modern TFT sensor measurement method
Original language description
This paper focuses to modern TFT sensors measurement method. This method used new design of a monolithic ASIC for measurement TFT sensor. The sensor applies alumina substrate prepared by thick film technology. The ASIC prototype in CMOS 0.7 ?m technologycontains analog measurement block and programmable digital calibration EPROM memory on one chip.
Czech name
Moderní metody měření TFT senzorů
Czech description
Článek se zabývá moderní měřící metodou vhodnou pro měření TFT senzorů. Měřící metoda využívá nově navržerného monolitockého IO. Obvod je navržen v technologii CMOS 0.7 ?m a obsahuje analogovou a digitální část.

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
ISBN
80-214-3089-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
71-74
Publisher name
Nakl. Novotny
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Oct 24, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)