Testing of analog and digital integrated circuits

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54227" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54227 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Systém pro testovaní analogových a digitálních integrovaných obvodů
Original language description
V článku je popsán navržený a realizovaný systém pro testování reálných integrovaných obvodů s podporou měření precizními laboratorními přístroji. Univerzální pole zajišťující dostatečné množství zaměnitelných signálových cest zajišťuje fyzické připojeníobvodů k dostupným přístrojům a řídicí počítač umožňuje komplexní využití širokého spektra dostupných funkcí moderních laboratorních přístrojů včetně nastavení měřicích cyklů a podpory následného zpracování dat.
Czech name
Systém pro testovaní analogových a digitálních integrovaných obvodů
Czech description
V článku je popsán navržený a realizovaný systém pro testování reálných integrovaných obvodů s podporou měření precizními laboratorními přístroji. Univerzální pole zajišťující dostatečné množství zaměnitelných signálových cest zajišťuje fyzické připojeníobvodů k dostupným přístrojům a řídicí počítač umožňuje komplexní využití širokého spektra dostupných funkcí moderních laboratorních přístrojů včetně nastavení měřicích cyklů a podpory následného zpracování dat.

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích
ISBN
80-214-3116-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
6
Pages from-to
52-57
Publisher name
Nakl. Novotný
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Dec 12, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)