Simulation of material influences in MR tomography
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU58245" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU58245 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/68081731:_____/06:00054138
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Simulation of material influences in MR tomography
Original language description
Materials with different magnetic susceptibility can cause deformation of magnetic field in MR tomograph, resulting in errors in obtained image. Using simulation and experimental verification we can solve the effect of changes in homogeneity of static magnetic fields caused by specimen made from magnetic material. This paper describes theoretical base of the magnetic resonance imaging method for susceptibility measurement. The method uses deformation of magnetic induction field in specimen vicinity. ForMR purposes it is necessary to immerse specimen into reference medium with measurable MR signal.
Czech name
Simulace vlivu materiálů v MR tomografii
Czech description
Materiály s různými magnetickými vlastnostmi moho způsobit deformaci magnetického pole MR tomografu, což vede k chybám ve získaných MR obrazech. Článek popisuje simulaci a experimentální ověření změn homogenity statisckého mag. pole způsobeného vzorkem zmagnetika. Metoda je založena na měření změn pole v okolí vzorku. Z důvodu použité MR techniky je měřený vzorek ponořen do referečního média produkujícího měřitelný MR signál.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/KJB208130603" target="_blank" >KJB208130603: Measurement and simulation of material susceptibility and conductivity influences in MR tomography</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Advances in Electrical and Electronic Engineering
ISSN
1336-1376
e-ISSN
—
Volume of the periodical
2006
Issue of the periodical within the volume
5
Country of publishing house
SK - SLOVAKIA
Number of pages
4
Pages from-to
194-197
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—