Setup for the fabrication of sharp probes for Scanning Near-field optical microscope
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APR23196" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PR23196 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Zařízení na výrobu ostrých hrotových sond pro optický rastrovací mikroskop s lokální sondou
Original language description
Je navrženo zařízení pro opakovatelnou výrobu nízkonákladových hrotových sond pro optickou rastrovací mikroskopii v blízkém pole, které je možné aplikovat na jednovidové i mnohavidové optické vlákno. K výrobě sond se používá metoda selektivního leptání optického vlákna v 40% kyselině fluorovodíkové, přičemž pro dosažení hladšího povrchu letaného hrotu je do kyseliny přidán 50% roztok fluoridu amonného ve vodě. Výsledkem rozdílu rychlosti leptání jádra vlákna a pláště vznikají reprodukovatelné hroty o výšce 2-4 mikrometry s průměrem aperturu 80-100 nm dle doby leptání.
Czech name
Zařízení na výrobu ostrých hrotových sond pro optický rastrovací mikroskop s lokální sondou
Czech description
Je navrženo zařízení pro opakovatelnou výrobu nízkonákladových hrotových sond pro optickou rastrovací mikroskopii v blízkém pole, které je možné aplikovat na jednovidové i mnohavidové optické vlákno. K výrobě sond se používá metoda selektivního leptání optického vlákna v 40% kyselině fluorovodíkové, přičemž pro dosažení hladšího povrchu letaného hrotu je do kyseliny přidán 50% roztok fluoridu amonného ve vodě. Výsledkem rozdílu rychlosti leptání jádra vlákna a pláště vznikají reprodukovatelné hroty o výšce 2-4 mikrometry s průměrem aperturu 80-100 nm dle doby leptání.
Classification
Type
G<sub>prot</sub> - Prototype
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Internal product ID
VÝSON
Numerical identification
—
Technical parameters
Zařízení s leptací lázní a krokovým mechanizmem pro výrobu reprodukovatelných jednovidové a mnohavidové sondy z optického telekomunikačního vlákna s aperturou 80-100 nm umožňující rozlišení rastrovacího optikcého mikroskopu 80-100
Economical parameters
Úspora 150 EUR vzhledem k ceně jedné komerční sondy. Měsíční spotřeba sond v jedné laboratoři je 5-10 ks. Tzn., jen v jedné laboratoři vzniká úspora min. 7500 EUR ročně.
Application category by cost
—
Owner IČO
00216305
Owner name
Ústav fyziky
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee requirement
N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
Web page
—