FEM Analysis of HF Magnetic Field Deformation near Conductive Samples
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU81230" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU81230 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00216305:26220/09:PU85135
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
FEM Analysis of HF Magnetic Field Deformation near Conductive Samples
Original language description
The aim of this paper is to present an efficiency way for numerical simulations and measurement problems of high-frequency magnetic fields deformation in the surround conducting samples of selected shapes. We consider both the magnetic conductive and electrical conductive materials. There are shown the physical, mathematical and numerical models for the simulation of deformation high frequency field. There is providing influences of sample dimensions, materiál properties, working frequency to results ofnumerical simulation. For the special cases these numerical results are compared with analytical results.
Czech name
FEM analýza deformace HF magnetického pole v blízkosti vodivých vzorků
Czech description
Cílem článku je prezentace efektivního postupu pro numerické simulace a měření deformací vysokofrekvenčních magnetických polí v okolí vodivých vzorků vybraných tvarů. U materiálů je uvažována magnetická i elektrická vodivost. V článku je prezentován fyzikální, matematický a numerický model pro výpočet deformací ve vysokofrekvenčním poli. Je zde popsán vliv rozměrů vzorků, materiálových vlastností a pracovního kmitočtu na numerickou simulaci. Pro speciální případy vzorků jsou numerické výsledky srovnánys analytickými výsledky.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/KJB208130603" target="_blank" >KJB208130603: Measurement and simulation of material susceptibility and conductivity influences in MR tomography</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Progress in Electromagnetic Research Symposium
ISBN
978-1-934142-08-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
—
Publisher name
The Electromagnetic Academy
Place of publication
Cambridge
Event location
Beijing
Event date
Mar 23, 2009
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—