Loss in the near-field optical microscopy due to the tapered probe
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82387" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82387 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Loss in the near-field optical microscopy due to the tapered probe
Original language description
Near-field optical techniques are presently widely used to study various optical characteristics of transparent or opaque microscopic structures such as optical waveguides, photonic crystals, semiconductor junctions, nanostructured systems. To control alight-matter interaction at nanometer distance, structures guiding electromagnetic energy with lateral mode confinement below the diffraction limit of light are necessary. Tapered tiny optical fiber probe is a crucial part of the system, governs its resolution, and simultaneously could play role as light source, detector, or both. Therefore it must be protected against mechanical vibration, cracks, etc. For its accurate simulation, it is essential that its geometry is correctly described, especially when coupling to evanescent field is considered.
Czech name
Ztráty v mikroskopii blízkého pole způsobené ostrou sondou
Czech description
Techniky blízkého pole se v současnosti používají ke studiu různých optických charakteristik průhledných či neprůhledných optických mikroskopických struktur - optických vlnovodů, fotonoických krystalů, polovodičových rozhraní, nanostrukturovaných systémů. Pro řízení interakce světla a hmoty v nanoměřítku jsuou třeba struktury vedoucí světlo o rozměrech menších než je difrakční mez. Ostrý hrot optického vlákna je klíčovým bodem systému, na němž závisí rozlišovací schopnost. Zárove%n může vystupovat jakozdroj i detektor. Proto musí být chráněn proti mechanickým vibracím, lomům a pod. Pro jeho přesnou simulaci, zejména v případech vazby evanescentních vln je nutné znát jeho geometrii.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceeding Physics of Materials 09
ISBN
978-80-8086-122-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
Technical University košice
Place of publication
Košice, Slovensko
Event location
Košice
Event date
Oct 14, 2009
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—