Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU92880" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU92880 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Solar cell shunt characterization via microscale light induced current
Original language description
Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud vevysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumanýchnehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.
Czech name
—
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/GAP102%2F10%2F2013" target="_blank" >GAP102/10/2013: Fluctuation processes in PN junctions of solar cells</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2011
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
IMAPS CS International Conference 2011 Proceedings
ISBN
978-80-214-4303-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
95-99
Publisher name
VUT Brno
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Jun 22, 2011
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)