Low pressure sensors principles
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU96232" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU96232 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Přehled technologií používaných pro elektrické měření nízkých tlaků
Original language description
Příspěvek diskutuje přehled principů snímání nízkých tlaku. Existují tři kategorie principů: tepelně vodivostní, kapacitní a ionizační. Tepelně vodivostní princip používá Piraniho měrka, termočlánkový snímač, snímač s termobateridí a termistorem. Ionizační měrky jsou typu se studenou a žhavenou katodou, typickými představiteli je Penningova měrka a Bayard-Alpertova měrka. Příspěvek rovněž shrnuje výhody a nevýhody díčlích typů snímačů.
Czech name
Přehled technologií používaných pro elektrické měření nízkých tlaků
Czech description
Příspěvek diskutuje přehled principů snímání nízkých tlaku. Existují tři kategorie principů: tepelně vodivostní, kapacitní a ionizační. Tepelně vodivostní princip používá Piraniho měrka, termočlánkový snímač, snímač s termobateridí a termistorem. Ionizační měrky jsou typu se studenou a žhavenou katodou, typickými představiteli je Penningova měrka a Bayard-Alpertova měrka. Příspěvek rovněž shrnuje výhody a nevýhody díčlích typů snímačů.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FR-TI3%2F017" target="_blank" >FR-TI3/017: Research of sensors for sensing low pressure and pressure in vacuum with digital interface for remote configuration and diagnostics</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2011
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích
ISBN
978-80-214-4405-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
7
Pages from-to
11-17
Publisher name
Neuveden
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Dec 1, 2011
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—