TG and TCE – important values for the choice of the base material
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU121904" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU121904 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Tg a TCE – důležité hodnoty pro volbu základního materiálu
Original language description
Bezolovnaté technologie s vyššími procesními teplotami během pájení i oprav přináší zvýšené požadavky na volbu základního materiálu pro výrobu DPS. Tyto teploty často dosahují hodnot, kdy dochází k výrazným délkovým změnám v laminátu (zejména nad Tg), ev. kdy dochází až k rozkladu základního materiálu (Td). Výsledkem jsou nadměrná pnutí jak v z-ové ose, tak i v osách x,y, která způsobují praskliny v otvorech, delaminace vrstev, poškození pouzder součástek i pájených spojů. Velmi důležité jsou hodnoty TCE (Thermal Coefficient of Expansion) i Tg (Glass Transition Temperature).
Czech name
Tg a TCE – důležité hodnoty pro volbu základního materiálu
Czech description
Bezolovnaté technologie s vyššími procesními teplotami během pájení i oprav přináší zvýšené požadavky na volbu základního materiálu pro výrobu DPS. Tyto teploty často dosahují hodnot, kdy dochází k výrazným délkovým změnám v laminátu (zejména nad Tg), ev. kdy dochází až k rozkladu základního materiálu (Td). Výsledkem jsou nadměrná pnutí jak v z-ové ose, tak i v osách x,y, která způsobují praskliny v otvorech, delaminace vrstev, poškození pouzder součástek i pájených spojů. Velmi důležité jsou hodnoty TCE (Thermal Coefficient of Expansion) i Tg (Glass Transition Temperature).
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2016
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Bulletin of SMT/ISHM Int. Conference "New Trends in Microelectronics"
ISSN
1211-6947
e-ISSN
—
Volume of the periodical
Neuveden
Issue of the periodical within the volume
79
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
3
Pages from-to
5-7
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—