FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66893" target="_blank" >RIV/00216305:26230/06:PU66893 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties
Original language description
In the paper, the FITTest_BENCH06 set of synthetic benchmark circuits is presented for the evaluation of diagnostic methods and tools. The structure of benchmark circuits together with their diagnostic properties is described. The set consists of 31 circuits at various levels of complexity (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 and 300000 gates). Four circuits with different diagnostic properties are available for each level of circuit complexity (fault coverage is approx. 0%, 33%, 66% and 100%). The benchmark circuits are available both at the register transfer level and the gate level. In addition to the benchmark set, a method is described that was used to develop benchmark circuits with required complexity and diagnostic properties.
Czech name
FITTest_BENCH06: Nová sada testovacích obvodů zohledňující jejich testovatelnost
Czech description
V příspěvku je představena sada syntetických testovacích obvodů FITTest_BENCH06 určená pro ověřování diagnostických metod a nástrojů. Sada se skládá z 31 obvodů na čtyřech úrovních složitosti (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 a 300000 hradel), přičemžpro každou úroveň složitosti jsou k dispozici 4 úrovně testovatelnosti (pokrytí poruch 0%, 33%, 66% a 100%). Součástí příspěvku je také krátké představení návrhové metody použité pro vytvoření těcto obvodů.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JC - Computer hardware and software
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
ISBN
1424401844
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
285-289
Publisher name
IEEE Computer Society
Place of publication
Praha
Event location
Praha
Event date
Apr 18, 2006
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—