A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F08%3APU77283" target="_blank" >RIV/00216305:26310/08:PU77283 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers
Original language description
This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.
Czech name
Studium homogenity tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických struktur
Czech description
Příspěvek se zabývá studiem vlastností tenkých vrstev pomocí optické a interferenční mikroskopie

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
CF - Physical chemistry and theoretical chemistry
OECD FORD branch
—

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Result description