Magnetic Force Microscopy (MFM)
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000007" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000007 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Magnetic Force Microscopy (MFM)
Original language description
An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The magnetic force microscopy (MFM) application note describes the principle of this technique, which involves mapping the magnetic field on the surface of a sample by scanning the topography with a magnetic moment tip. As an example application, a study of the domain structure on the surface of an intermetallic crystal that exhibits unusual magnetic properties is presented. This application note provides useful information on the use of MFM in the analysis of magnetic samples.
Czech name
—
Czech description
—
Classification
Type
O - Miscellaneous
CEP classification
—
OECD FORD branch
21000 - Nano-technology
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Advanced microsocpy techniques</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2023
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.