Electrostatic Force Microscopy (EFM)
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000011" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000011 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Electrostatic Force Microscopy (EFM)
Original language description
An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. In the case of electrostatic force microscopy (EFM), it is a technique that detects an electric field above the surface of a sample. EFM allows the charge distribution on the sample surface to be sensed by a conductive tip that oscillates above the surface. An example of an EFM measurement is an image of an Au-Si-Al interface.
Czech name
—
Czech description
—
Classification
Type
O - Miscellaneous
CEP classification
—
OECD FORD branch
21000 - Nano-technology
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Advanced microsocpy techniques</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2023
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.