All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Interferometric device for measuring deviations of the convex hemispherical shape of optical elements

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04670361%3A_____%2F22%3AN0000007" target="_blank" >RIV/04670361:_____/22:N0000007 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Interferometrické zařízení pro měření odchylek konvexního hemisférického tvaru optických prvků

  • Original language description

    Technické řešení se týká interferometrického zařízení pro měření odchylek konvexního hemisférického tvaru optických prvků, které obsahuje interferometr s referenčním objektivem, kde interferometru je přiřazen zdroj záření a detektor záření, přičemž zdroj záření a detektor záření jsou spřaženy s řídicím a vyhodnocovacím systémem, který je opatřen řídicím a vyhodnocovacím softwarem pro zjištění a vyhodnocení celkového konvexního hemisférického tvaru povrchu optického prvku složením interferogramů různých částí měřeného konvexního hemisférického povrchu. Cílem technického řešení je odstranit nebo alespoň minimalizovat nevýhody dosavadního stavu techniky zařízením pro měření konvexních hemisférických povrchů optických prvků, které bude opatřeno běžným ekonomickým referenčním objektivem, umožní přesné měření povrchu optického prvku s použitím více základních vlnových délek bez posunování referenčním objektivem nebo jeho částí a umožní měřit poloměr křivosti povrchu optického prvku a zjišťovat jeho vzdálenost od referenčního povrchu bez doplňkových měřidel vzdálenosti.

  • Czech name

    Interferometrické zařízení pro měření odchylek konvexního hemisférického tvaru optických prvků

  • Czech description

Classification

  • Type

    F<sub>uzit</sub> - Utility model

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20501 - Materials engineering

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/FV40387" target="_blank" >FV40387: Development of CNC Machining Processes and Measurement Methods of High Precision Optical Elements Made of Hard Materials with an Unfavorable Radius vs Diameter Ratio</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2022

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Patent/design ID

    CZ36134

  • Publisher

    CZ001 -

  • Publisher name

    Industrial Property Office

  • Place of publication

    Prague

  • Publication country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Date of acceptance

  • Owner name

    asphericon s.r.o., Milířská 449, 463 12 Jeřmanice, Česká republika

  • Method of use

    B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy

  • Usage type

    V - Výsledek je využíván vlastníkem