Determination of elemental concentration in dependence on analysed depth with utilization of GDOES technique

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F25870807%3A_____%2F14%3A%230000360" target="_blank" >RIV/25870807:_____/14:#0000360 - isvavai.cz</a>

Result on the web

<a href="http://www.hutnickelisty.cz" target="_blank" >http://www.hutnickelisty.cz</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Stanovení koncentrace prvků v závislosti na analyzované hloubce s využitím techniky GDOES

Original language description

V posledních letech se výzkum a vývoj v oblasti přípravy tenkých oxidických vrstev a povlaků moderními elektrochemickými, chemickými nebo fyzikálními technikami orientuje na zlepšení chemických a fyzikálních vlastností povlakovaných povrchů za účelem dosažení zvýšení jejich životnosti a funkčnosti pro daný typ aplikace. Součástí požadavků hodnocení povrchových vrstev a povlaků v závislosti na požadované kvalitě zahrnující fyzikálně, chemické a strukturní vlastnosti je důležitý vhodný výběr analytickýchmetod umožňující komplexní charakterizaci deponovaných tenkých vrstev. Kvantitativní hloubkový profil pro různé druhy povlaků a tenké oxidické vrstvy je stále častěji identifikován s využitím techniky optické emisní spektrometrie s buzením doutnavých výbojem (GDOES). Její výhody jsou zejména spatřovány ve srovnání s technikami AES, SIMS, XPS, RBS v jedinečné kombinaci vysoké odprašovací rychlosti, odprašovací hloubky, citlivosti metody, analýzy nevodivých vrstev a snadné kvantifikaci leh

Czech name

Stanovení koncentrace prvků v závislosti na analyzované hloubce s využitím techniky GDOES

Czech description

V posledních letech se výzkum a vývoj v oblasti přípravy tenkých oxidických vrstev a povlaků moderními elektrochemickými, chemickými nebo fyzikálními technikami orientuje na zlepšení chemických a fyzikálních vlastností povlakovaných povrchů za účelem dosažení zvýšení jejich životnosti a funkčnosti pro daný typ aplikace. Součástí požadavků hodnocení povrchových vrstev a povlaků v závislosti na požadované kvalitě zahrnující fyzikálně, chemické a strukturní vlastnosti je důležitý vhodný výběr analytickýchmetod umožňující komplexní charakterizaci deponovaných tenkých vrstev. Kvantitativní hloubkový profil pro různé druhy povlaků a tenké oxidické vrstvy je stále častěji identifikován s využitím techniky optické emisní spektrometrie s buzením doutnavých výbojem (GDOES). Její výhody jsou zejména spatřovány ve srovnání s technikami AES, SIMS, XPS, RBS v jedinečné kombinaci vysoké odprašovací rychlosti, odprašovací hloubky, citlivosti metody, analýzy nevodivých vrstev a snadné kvantifikaci leh

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

JG - Metallurgy, metal materials

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/LO1203" target="_blank" >LO1203: Regional Materials Science and Technology Centre - Feasibility Program</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2014

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Hutnické listy

ISSN

0018-8069

e-ISSN

—

Volume of the periodical

LXVII

Issue of the periodical within the volume

6

Country of publishing house

CZ - CZECH REPUBLIC

Number of pages

4

Pages from-to

63-66

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—