All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Technology for manufacturing of radiation tolerant SiC devices

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F24%3AN0000004" target="_blank" >RIV/26821532:_____/24:N0000004 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="http://www.onsemi.com" target="_blank" >http://www.onsemi.com</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek

  • Original language description

    Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek: Plně integrovaný proces výroby diskrétních vysoko výkonových polovodičových součástek typu dioda nebo FET (tranzistor řízený polem) na vlastním polovodičovém substrátu SiC (4H) o průměru 150 mm, tloušťky 350 um. Výrobní postup kvalifikovaný v MES PROMIS, ověřen na skupině funkčních vzorků SiC diod.

  • Czech name

    Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek

  • Czech description

Classification

  • Type

    Z<sub>tech</sub> - Verified technology

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20201 - Electrical and electronic engineering

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/TK05020011" target="_blank" >TK05020011: R&D of Radiation Tolerant Semiconductor Solutions</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2024

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Internal product ID

    TK05020011-V1

  • Numerical identification

    2025050200111

  • Technical parameters

    Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek: plně integrovaný proces výroby diskrétních vysoko výkonových polovodičových součástek typu dioda nebo FET (tranzistor řízený polem) na vlastním polovodičovém substrátu SiC (4H) o průměru 150 mm, tloušťky 350 um. Výrobní postup kvalifikovaný v MES PROMIS, ověřen na skupině funkčních vzorků SiC diod.

  • Economical parameters

    Ekonomické parametry: cena (epitaxního) substrátu SiC průměru 150 mm - max. 1300 USD, cena finální SiC desky se součástkami: max. 1700 USD, očekávaná kapacita vlastní výrobní linky: min. 50 desek/týden.

  • Application category by cost

  • Owner IČO

    26821532

  • Owner name

    ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.

  • Owner country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Usage type

    V - Výsledek je využíván vlastníkem

  • Licence fee requirement

    A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

  • Web page

    www.onsemi.com