Technology for manufacturing of radiation tolerant SiC devices
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F24%3AN0000004" target="_blank" >RIV/26821532:_____/24:N0000004 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://www.onsemi.com" target="_blank" >http://www.onsemi.com</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek
Original language description
Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek: Plně integrovaný proces výroby diskrétních vysoko výkonových polovodičových součástek typu dioda nebo FET (tranzistor řízený polem) na vlastním polovodičovém substrátu SiC (4H) o průměru 150 mm, tloušťky 350 um. Výrobní postup kvalifikovaný v MES PROMIS, ověřen na skupině funkčních vzorků SiC diod.
Czech name
Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek
Czech description
—
Classification
Type
Z<sub>tech</sub> - Verified technology
CEP classification
—
OECD FORD branch
20201 - Electrical and electronic engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TK05020011" target="_blank" >TK05020011: R&D of Radiation Tolerant Semiconductor Solutions</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2024
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Data specific for result type
Internal product ID
TK05020011-V1
Numerical identification
2025050200111
Technical parameters
Technologický postup výroby radiačně odolných SiC součástek: plně integrovaný proces výroby diskrétních vysoko výkonových polovodičových součástek typu dioda nebo FET (tranzistor řízený polem) na vlastním polovodičovém substrátu SiC (4H) o průměru 150 mm, tloušťky 350 um. Výrobní postup kvalifikovaný v MES PROMIS, ověřen na skupině funkčních vzorků SiC diod.
Economical parameters
Ekonomické parametry: cena (epitaxního) substrátu SiC průměru 150 mm - max. 1300 USD, cena finální SiC desky se součástkami: max. 1700 USD, očekávaná kapacita vlastní výrobní linky: min. 50 desek/týden.
Application category by cost
—
Owner IČO
26821532
Owner name
ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
V - Výsledek je využíván vlastníkem
Licence fee requirement
A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Web page
www.onsemi.com