In-situ microstructure characterization of titania based materials using emanation thermal analysis

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46356088%3A_____%2F00%3A%230000082" target="_blank" >RIV/46356088:_____/00:#0000082 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
In-situ microstructure characterization of titania based materials using emanation thermal analysis
Original language description
Emanation Thermal Analysis (ETA) was used for characterisation of microstructure changes of precursors for titania based photocatalysts. The ETA results are in agreement with the results of XRD, TEM, and surface area measurement.
Czech name
Charakterizace mikrostruktury materiálů založených na oxidu titanu pomocí emanační termické analýzy
Czech description
Emanační termická analýza byla použita za účelem změn mikrostruktury prekurzorů fotokatalyzátorů založených na oxidu titanu. Byl nalezen dobrý soulad mezi výsledky ETA, RTG difrakce, elektronové mikroskopie TEM a měření měrného povrchu.

Project
<a href="/en/project/ME%20180" target="_blank" >ME 180: Monitoring thermal anealing processes of advanced inorganic materialsP</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2000
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Second International Symposium on Photoreaction Control and Photofunctional Materials 16.3.-17.3.1999, Tsukuba
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
217-218
Publisher name
—
Place of publication
Tsukuba
Event location
Tsukuba, Japan
Event date
Jan 1, 1999
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)