The characterization of materials using the Debye-Scherrer diffraction method

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24210%2F13%3A%230005748" target="_blank" >RIV/46747885:24210/13:#0005748 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz

Original language description

Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika ?m. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základníinformace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti krystalitu. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků

Czech name

Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz

Czech description

Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika ?m. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základníinformace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti krystalitu. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JG - Metallurgy, metal materials

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Publication year

2013

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Techmat '13

ISBN

978-80-7395-735-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

5

Pages from-to

50-54

Publisher name

Dopravní fakulta Jana Pernera, Univerzita Pardubice

Place of publication

Pardubice

Event location

Svitavy

Event date

Nov 21, 2013

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—