Silicate layer thickness measurement
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F07%3A%230000177" target="_blank" >RIV/46747885:24220/07:#0000177 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Měření tloušťky silikátové vrstvy
Original language description
Metoda bezkontaktního měření silikátové vrstvy nanesené na skleněné desce optickou metodou. Principem je vyhodnocení stop odrazů laserového paprsku od povrchu a rozhraní vrstev materiálu. Aplikace je nasazena v průmyslovém provozu.
Czech name
Měření tloušťky silikátové vrstvy
Czech description
Metoda bezkontaktního měření silikátové vrstvy nanesené na skleněné desce optickou metodou. Principem je vyhodnocení stop odrazů laserového paprsku od povrchu a rozhraní vrstev materiálu. Aplikace je nasazena v průmyslovém provozu.
Classification
Type
X - Unclassified
CEP classification
JC - Computer hardware and software
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Others
Publication year
2007
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.