Determination of cause for increased failure rate of electrical components

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F07%3A%230000416" target="_blank" >RIV/46747885:24220/07:#0000416 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Determination of cause for increased failure rate of electrical components

Original language description

Lifetime of components can be described with several distributions. Most frequently are used exponential, Weibull and gamma distributions. Exponential distribution is used for description of components which are in normal-life period and are not permanently strained.Weib. dist. is used for description of permanently strained components and components in the end-of-life period. The aim of this work is to set down reliability parameters of electric components on practical exampleand also to set down whether increased failure rate of components from the sample is random or is possible to make out their degradation.Total of about 14 000 components of several types were installed in the company during the years 2003-2005. Primary diversity was in the colourof LEDdiode and in the type of supply. The number of failures of components was not constant and it was necessary to prove whether increased failure rate is random or whether the component is degrading.

Czech name

Určení příčin zvyšující se intenzity poruch elektrických komponent

Czech description

Životnost komponent se nejčastěji popisuje pomocí exponenciálního, Weibullova nebo gamma rozdělení. Exponenciální rozdělení je využíváno pro popis komponent, které jsou v období normálního života a nejsou výkonově namáhány. V opačném případě je snaha použít Weibullovo rozdělení. Cílem práce je zjistit parametry bezporuchovosti elektrických komponent na praktické příkladě, u kterých byl předpoklad, že se doba do poruchy lze popsat pomocí exponenciálního rozdělení. Výsledek však byl ten, že byla prokázánajejich silná degradace.Systém byl tvořen 14 000 komponentami několika typů, které byli instalovány během roku 2003 až 2005. Jednalo se o LED diody. Intenzita poruch diod se proti teoretickému předpokladu výrazně zvyšovala a byla závislá na typu napájenía barvě LED diody.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JS - Reliability and quality management, industrial testing

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/1M06047" target="_blank" >1M06047: Research Center for Quality and Reliability of Production</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Publication year

2007

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

9th International sfientific conference Applied Mechanics 2007

ISBN

978-80-248-1389-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

2

Pages from-to

45-46

Publisher name

VŠB-Technická univerzita Ostrava

Place of publication

Ostrava

Event location

Malenovice

Event date

Jan 1, 2007

Type of event by nationality

CST - Celostátní akce

UT code for WoS article

—