All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Interferometric system for coordinate measurement

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47677023%3A_____%2F16%3AN0000002" target="_blank" >RIV/47677023:_____/16:N0000002 - isvavai.cz</a>

  • Alternative codes found

    RIV/68081731:_____/16:00467060

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Interferometrický systém pro souřadnicové odměřování

  • Original language description

    Předmětem výsledku je interferometrický systém pro velmi přesná odměřování polohy v souřadnicových systémech. Systém nalezne uplatnění především v nanotechnologiích, pro nanodiagnostiku, litografii, metrologickou elektronovou, nebo sondovou mikroskopii, ap. Základem je dvousvazkový interferometr pro měření v jedné ose odrazem od rovinného zrcadla. Interferometr využívá plně křemennou optiku s velmi dobrou teplotní stabilitou a spojováním prvků na optický kontakt. Řešení interferometrické jednotky je kompaktní s optovláknovým rozvodem světla a integrovaným detekčním systémem využívajícím optického homodynního principu. Použití více jednotek pro více měřicích os je umožněno výkonovou rezervou laseru a optovláknovým děličem s příslušným počtem výstupů, vše využívající optických vláken zachovávajících polarizaci. Zdrojem záření je kompaktní stabilizovaný Nd:YAG laser se zdvojnásobením vlnové délky. Systém disponuje kompenzací vlivu indexu lomu vzduchu nepřímou metodou vycházející z měření základních parametrů atmosféry.

  • Czech name

    Interferometrický systém pro souřadnicové odměřování

  • Czech description

    Předmětem výsledku je interferometrický systém pro velmi přesná odměřování polohy v souřadnicových systémech. Systém nalezne uplatnění především v nanotechnologiích, pro nanodiagnostiku, litografii, metrologickou elektronovou, nebo sondovou mikroskopii, ap. Základem je dvousvazkový interferometr pro měření v jedné ose odrazem od rovinného zrcadla. Interferometr využívá plně křemennou optiku s velmi dobrou teplotní stabilitou a spojováním prvků na optický kontakt. Řešení interferometrické jednotky je kompaktní s optovláknovým rozvodem světla a integrovaným detekčním systémem využívajícím optického homodynního principu. Použití více jednotek pro více měřicích os je umožněno výkonovou rezervou laseru a optovláknovým děličem s příslušným počtem výstupů, vše využívající optických vláken zachovávajících polarizaci. Zdrojem záření je kompaktní stabilizovaný Nd:YAG laser se zdvojnásobením vlnové délky. Systém disponuje kompenzací vlivu indexu lomu vzduchu nepřímou metodou vycházející z měření základních parametrů atmosféry.

Classification

  • Type

    G<sub>funk</sub> - Functional sample

  • CEP classification

    BH - Optics, masers and lasers

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/TA02010711" target="_blank" >TA02010711: Advanced interferometric systems for measurement in nanotechnology</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2016

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Internal product ID

    DP0001-2016-FV01

  • Numerical identification

    APL-2016-03

  • Technical parameters

    Pracovní vlnová délka: 532 nm, relativní stabilita vlnové délky zdroje: 10-8, rozlišení 130 pm, měření odrazem od: rovinného zrcadla, počet měřicích os: 1 až 6, kompenzace vlivu indexu lomu vzduchu: ano

  • Economical parameters

    Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu a využívaný příjemcem. Kontakt: prof. Ing. Josef Lazar, Dr., joe@isibrno.cz

  • Application category by cost

  • Owner IČO

    68081731

  • Owner name

    Ústav přístrojové techniky Akademie věd ČR, v.v.i.

  • Owner country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Usage type

    A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

  • Licence fee requirement

    A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

  • Web page