White-light spectral interferometry used for dispersion characterization of optical fibers
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F03%3A%230002025" target="_blank" >RIV/47813059:19240/03:#0002025 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
White-light spectral interferometry used for dispersion characterization of optical fibers
Original language description
A new spectral-domain white-light interferometric technique employing a low-resolution spectrometer is used for dispersion characterization of optical fibers. The technique utilizes the fact that the spectral interference fringes are resolved at the output of a tandem configuration of the compensated (non-dispersive) Michelson interferometer and a two-mode optical fiber only in the vicinities of so-called equalization wavelengths at which the optical path difference (OPD) in the interferometer is the same as the intermodal group OPDs...
Czech name
Použití spektrální interferometrie v bílém světle pro charakteristiku disperze optických vláken
Czech description
Nová interferometrická technika ve spektrální doméně a bílém světle využívající spektrometr s nízkým rozlišením je použita pro charakteristiku disperze optických vláken. Technika využívá faktu, že interferenční proužky na výstupu tandemové konfigurace kompenzovaného (nedisperzivního) Michelsonova interferometru a dvoumódového optického vlákna jsou rozlišitelné jen v okolích tzv. ekvalizačních vlnových délek, v nichž je rozdíl optických drah (OPD) v interferometru stejný jako intermodální grupové OPD.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
OPTICAL MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL INSPECTION III: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
ISBN
0-8194-5014-6
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Number of pages
8
Pages from-to
—
Publisher name
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
Place of publication
USA
Event location
MUNICH, GERMANY
Event date
Jan 1, 2003
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
000184287300090